掃描電鏡導電和不導電樣品處理方法的區別
掃描電鏡中，導電和不導電樣品的處理方法有根本性的區別，核心原因在于如何應對 “電荷積累” 問題。
MORE INFO → 行業動態 2025-11-14
掃描電鏡中，導電和不導電樣品的處理方法有根本性的區別，核心原因在于如何應對 “電荷積累” 問題。
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掃描電鏡的放大倍數實現方式與傳統光學顯微鏡有根本性的不同，它并不是通過透鏡的組合來“放大”圖像。
MORE INFO → 行業動態 2025-11-14
掃描電鏡（SEM）圖像出現整體或局部發白，通常意味著信號過強、表面帶電、或探測設置異常。
MORE INFO → 行業動態 2025-11-12
在掃描電鏡拍攝中，樣品是否需要導電，取決于樣品的材質、觀察模式和顯微鏡類型。
MORE INFO → 行業動態 2025-11-12
在掃描電鏡拍照過程中出現拖影，通常表現為圖像邊緣模糊、結構拉伸或重復陰影，這種現象往往與樣品、電子束或掃描設置有關。
MORE INFO → 行業動態 2025-11-10
在掃描電子顯微鏡（SEM）中，正確找到焦點（焦平面）是獲得清晰圖像的關鍵步驟。
MORE INFO → 行業動態 2025-11-10
在掃描電鏡成像過程中，焦距是否正確直接影響圖像的清晰度與分辨率。判斷焦距是否合適并不單靠自動對焦功能，更需要操作者根據圖像特征進行觀察和微調。
MORE INFO → 行業動態 2025-11-07
在掃描電鏡成像中，樣品是否位于正確的焦平面，直接決定圖像的清晰度和細節分辨率。
MORE INFO → 行業動態 2025-11-07